功率半導體元件加速壽命測試

SEM測試是一種可配置的應力篩選系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于執(zhí)行功率半導體元件和包IGBT、 MOSFET、SCR、二極管和二級元件的模塊加速壽命測試。該系統(tǒng)對想獲得優(yōu)質的商業(yè)現貨功率半導

SEM測試的核心是能為每個客戶的獨特測試需求進行配置的靈活架構。系統(tǒng)可以從20到4000個甚至更多的測試儲存單元進行配置。每個單元以自己的本地控制器為特征對應用的或UUT（被測單元）功率和其它測試參數進行設置和監(jiān)測。每個單元還包含用于溫度、電流、電壓和計時的測量單位，使加快單獨設備的故障機制和確定功能運行極限的完全鑒定和生產測試成為可能

SEM測試是一種可配置的應力篩選系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于執(zhí)行功率半導體元件和包含IGBT、 MOSFET、SCR、二極管和二級元件的模塊加速壽命測試。該系統(tǒng)對想獲得優(yōu)質的商業(yè)現貨功率半導體元件制造商和用戶具有理想效果，這些設備將用于高可靠性的自動化、運輸、航空、國防、工業(yè)和醫(yī)療系統(tǒng)。  

1.用于被測設備的熱應力和電應力的功率循環(huán) 
2.具有用戶定義的警報和控制限制的趨勢監(jiān)測 
3.快速的設備溫度循環(huán)和環(huán)境溫度曲線繪制 
4.測量接點溫度 
5.檢測初期故障并自動傳送警報
測試配置通過友好的圖形用戶界面進行快速編程。每個測試單元的安裝和測量都顯示在屏幕上，并被輸出到SQL數據庫進行快速的測試中和測試后分析。